蔡司三坐標(biāo)測量機(CMM)是用于準確測量物體在三維空間中尺寸和形狀的高精度測量設(shè)備。通過測量頭對物體進行掃描和采樣，將采樣數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為三維坐標(biāo)系中的點云數(shù)據(jù)。然后利用數(shù)學(xué)算法計算出物體的尺寸和形狀。
其運動由電子控制系統(tǒng)控制，確保測量探針能夠準確移動到要求位置，從而提高測量的精度和重復(fù)性；計算機處理測得的點的坐標(biāo)數(shù)值，擬合形成測量元素，如圓、球、圓柱等，通過數(shù)學(xué)計算得出其形狀、位置公差及其他幾何量數(shù)據(jù)；在現(xiàn)代制造業(yè)中非常重要，它們廣泛應(yīng)用于汽車、航空航天、模具制造等行業(yè)，用于質(zhì)量控制和產(chǎn)品開發(fā)過程中的精密測量。
目前使用的蔡司三坐標(biāo)測量機有多種類型，包括橋式、龍門式、水平臂式和便攜式等。測量方式主要分為接觸式和非接觸式兩種，不同的類型和應(yīng)用場合可能需要不同的測量方式；在模具制造中，如果型芯型腔與導(dǎo)柱導(dǎo)套的匹配出現(xiàn)偏差，可以通過三坐標(biāo)測量機找出偏差值并進行糾正，確保模具的準確度和產(chǎn)品質(zhì)量。
在進行測量前，需要啟動測量機并進行必要的設(shè)置，然后將被測物體放置在測量空間內(nèi)，通過傳感器獲取各測點的坐標(biāo)值，采用小二乘法或其他計算方法，計算出被測物體的幾何尺寸和形狀誤差；具有可作三個方向移動的探測器，能夠在一個六面體的空間范圍內(nèi)表現(xiàn)幾何形狀、長度及圓周分度等測量能力的儀器。
蔡司三坐標(biāo)測量機的測量方式主要有兩種：接觸式和非接觸式。
-接觸式測量：是傳統(tǒng)的測量方式，它使用一個觸摸探頭來直接接觸被測物體的表面。探頭感受物理觸碰并記錄下接觸點的坐標(biāo)，這些點的數(shù)據(jù)隨后被用來計算物體的幾何尺寸和形狀。接觸式測量精度高，但速度相對較慢，且可能對柔軟或易變形的材料表面造成損傷。
-非接觸式測量：采用光學(xué)或其他傳感技術(shù)，如激光或攝像系統(tǒng)，來捕捉物體表面的點云數(shù)據(jù)，而無需實際接觸物體。這種方式適合于測量復(fù)雜形狀或易受損的表面，測量速度快，但可能受到表面反射性質(zhì)的影響。
